Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

В рамките на 1-5 минути файлът ще бъде доставен във вашия акаунт в Telegram.

Внимание: Уверете се, че сте свързали акаунта си с бота Z-Library Telegram.

В рамките на 1-5 минути файлът ще бъде доставен на вашето Kindle устройство.

Моля, обърнете внимание: трябва да потвърдите всяка книга, която искате да изпратите на вашия Kindle. Проверете пощенската си кутия за имейла за потвърждение от Amazon Kindle.